产品介绍：
威邦HAST试验箱，英文名（HAST Chamber），又称HAST高加速寿命老化箱。是一种通过施加高温、高湿、高气压等极端环境条件，加速评价电子元器件、材料及封装结构可靠性的试验设备。广泛应用于半导体、器件封装、PCB/PCBA、光电、汽车电子及新材料等领域。
产品别名：
HAST老化试验箱，HAST高压加速老化箱，BHAST偏压高加速应力试验箱，高加速寿命老化试验机……
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威邦HAST试验箱，又称HAST高加速寿命老化箱。本试验箱通过温度、相对湿度与大气压力的协同作用，加速被测样品湿气渗透、电化学迁移、材料降解等失效过程。
一，应用领域：
电子元器件，汽车电子，光电部件，航空航天工业，医疗设备，化学工业等半导体元器件或非气密性封装IC器件等，进行温湿度偏压(不偏压)高加速应力寿命老化试验，抗湿性试验，稳态湿热试验，失重试验。
二，HAST试验4种典型效应：
» 金属腐蚀：
高温高湿环境加速水汽渗透入塑封壳内，导致金属元件和导线上产生氧化物和腐蚀，可能引发短路等现象。
» 绝缘材料老化：
高温高湿环境使绝缘材料中的水分析入，加速绝缘材料老化，可能引起漏电等现象。
» 焊点开裂：
装材料与芯片框架的热膨胀系数不同，在高温高湿环境下可能造成焊点开裂，引发接触不良等问题。
» 爆米花效应：
由于封装体在高温下内部水分汽化而产生爆裂现象。
三，2种测试模式：HUM（不饱和）/ STD（饱和）模式
» 双层316不锈钢圆弧内箱结构，，罐体生产获得国家特种设备制造许可证之压力容器许可证书。
» 依JESD22-A110试验规范，可加载最大工作电压（24个偏压端子）,对样品持续通电，实现动态偏压（BHAST）试验。
» 偏压端子通过颜色编码（红色=正，黑色=负）提高可视性，使偏差测试更顺畅。
» 电子门锁设计，使用开/关按钮，打开或关闭箱门，二段式压力安全保护，安全双向检测。
» 样品架托盘和箱门采用滑轨抽拉，可有效避免因高温时拿取样品烫伤，使用更安全。
| HAST高压加速老化试验箱规格型号 | ||||||
| 产品名称 Product |
型号 Model |
工作室容积 Volume |
温湿度范围 Temp/Hum Range |
压力范围 Pressure Range |
内箱尺寸 （直径φW*深D） |
外箱尺寸 （宽W*深D*高H） |
| WBE-HAST系列 高压加速老化试验箱 |
WBE-HAST-40 | 69（L） | A： +100~+143℃； B： +100~+156℃； （65%~100%R.H不饱和HUM及饱和STD） |
A：0.2～3kg/cm² (0.018～0.294 MPa) (0.018～0.394 MPa) |
400*550（mm） | 700*950*1710（mm） |
| WBE-HAST-45 | 90（L） | 418*660（mm） | 770*950*1670（mm） | |||
| WBE-HAST-55 | 150（L） | 550*650（mm） | 980*1150*1780（mm） | |||
| WBE-HAST-65 | 325（L） | 650*986（mm） | 1100*1120*1770（mm） | |||
| WBE-PCT系列 饱和蒸汽高压加速老化箱 |
WBE-PCT-40 | 69（L） | A： +100~+143℃； （100%R.H饱和STD） |
A：0.2～3kg/cm² (0.018～0.294 MPa) |
400*550（mm） | 700*950*1710（mm） |
| WBE-PCT-55 | 150（L） | 550*650（mm） | 900*1200*1760（mm） | |||
| WBE-PCT-65 | 325（L） | 650*986（mm） | 1100*1120*1770（mm） | |||
| 可非标定制其它规格参数 | ||||||
| HAST高压加速老化试验箱性能参数 | ||
| 性能参数 | 温度范围 | +105.0~+133.3℃（at 100%R.h） +110.0~+140.0℃（at 85%R.h） +118.0~+156.0℃（at 65%R.h） |
| 温度波动度 | ≤±0.5℃ | |
| 温度均匀度 | ≤2℃ | |
| 温度偏差 | ≤±2℃ | |
| 升温时间 | 常温～+ 143℃约75 min ；常温～+ 156℃约100 min | |
| 湿度范围 | 65%～100%R.h | |
| 湿度波动度 | ≤±2%R.h | |
| 湿度均匀度 | ≤±3%R.h | |
| 湿度偏差 | ≤±3%R.h | |
| 压力范围 | A：0.2～3kg/cm² (0.018～0.294 MPa) ；B：0.2～4kg/cm² (0.018～0.394 MPa) （特殊客户需求） ;（其他压力可定制） |
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| 压力偏差 | ≤±2Kpa | |
| 升压时间 | 常压～+ 3kg/cm²约50 min. 外部气源加压：约5 min 常压～+ 4kg/cm²约60 min. 外部气源加压：约5 min |
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| HAST测试模式 | HUM（不饱和）测试模式/STD（饱和）测试模式 | |
| 偏压端子 | 4~128个可选（或定制） | |
| 控制器 | 7寸彩色触摸屏控制 | |
| 排气模式 | 三种模式:相对保湿的缓慢冷却/保持水汽的慢速冷却/快速排气 | |
| 箱体材质 | 内箱 | SUS #316不锈钢（电解抛光） |
| 外箱 | 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理，WBE威邦标准蓝灰 | |
| 电源 | AC220V±10% 50HZ 1∮2W+E | |
| 型号说明 |
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| HAST试验常用测试条件 | |||||
| 标准号 | 执行标准 | 测试条件 | |||
| 温度（℃） | 湿度（%R.h） | 电压（V） | 时间（h） | ||
| IEC60068-2-66 IEC60749 |
环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热 | 110±2 120±2 130±2 |
85±5 85±5 85±5 |
任意电压 | 96/192/408 48/96/192 24/48/96 |
| GB/T2423.40 | 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热 | 110±2 120±2 130±2 |
85±5 85±5 85±5 |
1~1000V | 96/192/408 48/96/192 24/48/96 |
| GB/T4937.40 | 半导体器件机械和气候试验方法 第4部分：湿热、稳态、高加速应力试验（HAST） | 110±2 130±2 |
85±5 85±5 |
1~1000V | 96/264 |
| JIS C0096-2001 | 环境测试 第2部分：倾倒·湿热·稳态（非饱和加压蒸汽） | 110±2 120±2 130±2 |
85±5 85±5 85±5 |
任意电压 | 96/192/408 48/96/192 24/48/96 |
| JEITA（EIAJ）ED-4701/100A/103 | 半导体器件不饱和蒸汽压力测试 | 110±2 120±2 130±2 |
85±5 85±5 85±5 |
持续施加电压 | 24/48/96/168/500 |
| JPCA-ET08 | 印刷电路板不饱和蒸汽压力测试 | 110±2 120±2 130±2 |
85±5 85±5 85±5 |
持续施加电压 | 96/192/408 48/96/192 24/48/96 |
| AEC Q100-Rev-E AEC Q101 |
汽车级半导体分立器件应力测试认证 | 110±2 130±2 |
85±5 85±5 |
持续施加电压/无偏压 | 264/96 |
| JESD22-A101C | 稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命） | 85±2 | 85±5 | 持续/间断施加电压 | 24/168/1000 |
| JESD22-A102E | 高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透） | 121±2 | 100±5 | 无偏压 | 24/48/96/168/240/336 |
| JESD22-A110E | HAST高加速温湿度应力试验 | 110±2 130±2 |
85±5 85±5 |
持续/间断施加电压 | 264/96 |
| JESD22-A118B | 温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽） | 110±2 130±2 |
85±5 85±5 |
无偏压 | 264/96 |
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