HAST高压加速老化试验箱（自动门）

产品规格 : 满足20~225L标准容积选型和非标定制

产品介绍：
      HAST高压加速老化试验箱（自动门）英文名（Highly Accelerated Stress Test）用于模拟芯片在实际使用中可能遇到的极端环境和高温高湿的工作环境，以检验芯片的可靠性和寿命。其原理是将芯片放置在高温高湿的环境中，在一定时间内进行加速老化测试，从而提高产品的质量和可靠性。

产品别名：
      自动门HAST高压加速老化试验箱，自动门HAST老化试验箱，HAST高加速寿命试验箱，自动门HAST

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威邦HAST高压加速老化试验箱：英文名Highly Accelerated Stress Test Chamber 用于模拟芯片高温高湿高压的环境中，在一定时间内进行加速老化测试，藉以在最短时间内检验芯片的可靠性和寿命，从而提高产品的质量和可靠性。

» 行业首创压力可达4KG测试范围，

» 自动箱门设计，按钮控制箱门开合，自带压力保护，

» 内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度，

» 兼容不饱和高压蒸汽的恒定湿热（HAST）和高压蒸煮（PCT）试验，

产品特点

HAST常用试验标准

hast测试标准表格655-437

技术规格

*可定制任意规格参数非标机型

HAST高压加速寿命老化箱
型号Model		WBE-HAST-30	WBE-HAST-40	WBE-HAST-55	WBE-HAST-65
工作容积（L）		20 L	60 L	140 L	225 L
内箱尺寸（mm）	直径φ	300	400	550	650
	深D	450	550	650	750
外箱尺寸（mm）	宽W	650	700	900	1000
	深D	1000	950	1200	1300
	高H	1650	1710	1760	1860
功率（KW）		2.8	3.2	4.5	6
性能指标	温度范围	A： +100~+143℃； B： +100~+156℃；（可定制其它温度范围）
	湿度范围	60%~100%R.h
	压力范围	A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)； B：0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa)；（可定制更大压力范围）
	温度均匀度	≤±1℃
	温度波动度	≤±0.5℃
	湿度波动度	≤±2 % R.h
	湿度偏差	≤±3 % R.h
	温度偏差	≤±2℃
	压力偏差	≤±2Kpa
	升温时间	常温～+ 143℃ 约45min ；常温～+ 156℃ 约55min
	升压时间	常压～3kg/cm² 约35min，外部气源加压约5min
箱体材质	内箱	SUS #316不锈钢
	外箱	冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理，WBE威邦标准蓝灰
噪音（dB）		≤60
控制器		7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据）
加压方式		1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压
BIAS偏压端子		含偏压端子（选配订购时需注明）
电源		AC220V±10% 50HZ 1∮2W+E
保护装置		1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护，7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护
重量（KG）具体以实际为准		220	255	390	550
型号说明