您的位置:首页 > 产品系列 > HAST/PCT/HTGB老化箱
PCT高压加速老化箱
  • PCT-55PCT高压加速老化试验箱
  • PCT-55开箱门
  • PCT-55PCT高压加速老化箱右侧面

PCT高压加速老化箱

产品规格 : 满足31~248L标准容积选型和非标定制
产品介绍:
       PCT高压加速老化箱又叫饱和蒸汽高压寿命试验箱,英文名High Pressure Cooking Testing Chamber。用于评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温,高湿,高气压条件下对环境的抵抗能力,通过加速其失效过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,提前发现产品失效模式。


产品别名:
      PCT高温高压蒸煮仪,饱和稳态湿热老化箱,PCT饱和湿度加速寿命老化箱……
在线咨询在线咨询

全国服务咨询热线:400-8353-568

产品详情

威邦PCT高压加速老化箱:用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、饱和湿热等加速寿命信赖性试验。

 

一,满足试验标准

GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。

GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

MIL-STD810D方法502.2。

GJB150.9-8温湿试验。

GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)

 

 

二,应用领域

PCB,半导体,显示面板,太阳能,磁性材料,高分子材料等

技术规格

*可定制任意规格参数非标机型

PCT(饱和)高压加速老化试验箱
型号Model WBE-PCT-30 WBE-PCT-40 WBE-PCT-55 WBE-PCT-65
工作容积(L) 20 L 60 L 140 L 225 L
内箱尺寸
(mm)
直径φ 300 400 550 650
D 450 550 650 750
外箱尺寸
(mm)
W 900 1000 900 1000
D 700 750 1200 1300
H 1470 1470 1760 1860
功率(KW) 2 2.5 3.5 4.5
性能指标 温度范围  +100~+145℃(饱和蒸汽温度)
湿度范围 100%RH(饱和蒸气湿度)
压力范围 0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa)
温度均匀度 ≤±2℃
温度波动度 ≤±0.5℃
湿度波动度 ≤±2 % R.H
湿度偏差 ≤±3 % R.H
温度偏差 ≤±2℃
压力偏差 ≤±2Kpa
加压时间 约45min
箱体材质 内箱 SUS #316不锈钢
外箱 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理,WBE威邦标准蓝灰
控制器 7寸彩色触摸屏控制器(带压力温湿度,带RS-485或RS-232通讯,USB烤数据)
BIAS偏压端子 依据用户需求定制
电源 AC220V±10% 50HZ 1∮2W+E
重量(KG)具体以实际为准 190 235 370 520
保护装置 1.超温保护,2.风机超载保护,3.箱门压力保护,4.缺水保护,5.溢水保护,6.加热器空焚保护,
7.加热器超载保护,8.电源缺相保护,9.过电流保护,10.短路漏电等保护
型号说明

PCT型号说明

行业应用

合作客户

公司图片

实力与优势

荣誉资质

出货与售后

相关产品/ Related Products
在线咨询

在线咨询

咨询热线

150-1908-0857

微信沟通

二维码扫描二维码, 获取方案报价
返回顶部