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PCT高压加速老化箱
  • PCT-55PCT高压加速老化试验箱
  • PCT-55开箱门
  • PCT-55PCT高压加速老化箱右侧面

PCT高压加速老化箱

产品规格 : 满足31~248L标准容积选型和非标定制
产品介绍:
       PCT高压加速老化箱又叫饱和蒸汽高压寿命试验箱,英文名High Pressure Cooking Testing Chamber。用于评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温,高湿,高气压条件下对环境的抵抗能力,通过加速其失效过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,提前发现产品失效模式。


产品别名:
      PCT高温高压蒸煮仪,饱和稳态湿热老化箱,PCT饱和湿度加速寿命老化箱……
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产品详情

威邦PCT高压加速老化箱:用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、饱和湿热等加速寿命信赖性试验。

 

一,满足试验标准

GB/T10586-1989湿热试验室技术条件。

GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。

MIL-STD810D方法502.2。

GJB150.9-8温湿试验。

GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)

 

 

二,应用领域

PCB,半导体,显示面板,太阳能,磁性材料,高分子材料等

技术规格
PCT(饱和湿度)高压加速老化箱
型号Model WBE-PCT-30 WBE-PCT-40 WBE-PCT-55 WBE-PCT-65
容积(L) 31 L 69 L 154 L 248 L
内箱尺寸
(mm)
直径φ 350 400 550 650
深D 450 550 650 750
外箱尺寸
(mm)
宽W 700 700 850 950
深D 1000 1100 1150 1250
高H 1710 1710 1760 1860
性能指标 温度范围  +100~+145℃(饱和蒸汽温度)
湿度范围 100%RH(饱和蒸气湿度)
压力范围 0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa)
温度均匀度 ≤±2℃
温度波动度 ≤±0.5℃
湿度波动度 ≤±2 % R.H
湿度偏差 ≤±3 % R.H
温度偏差 ≤±2℃
压力偏差 ≤±2Kpa
加压时间 约45min
功率 2.2KW 2.5KW 3.5KW 4.5KW
箱体材质 内箱 SUS #316不锈钢
外箱 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
保温 超细玻璃棉
噪音 ≤60(dB)
控制器 7寸彩色触摸屏控制器(带压力温湿度,带RS-485或RS-232通讯,USB烤数据)
分辨率 温度:0.01℃;湿度:0.1%RH;压力:0.1 kg/cm²;
BIAS偏压端子 依据用户需求定制
使用条件 环境温度:+5℃~+35℃;环境湿度:≤85%RH;环境大气压要求:86KPa~106KPa
电源 AC220V 50/60Hz
保护装置 1.超温保护,2.风机超载保护,3.箱门压力保护,4.缺水保护,5.溢水保护,6.加热器空焚保护,
7.加热器超载保护,8.电源缺相保护,9.过电流保护,10.短路漏电等保护
型号说明

PCT型号说明

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