HAST高压加速寿命老化箱（双层式）

产品规格 : 满足31~225L标准容积选型和非标定制

产品说明
      HAST高压加速寿命老化箱用于评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温，高湿，高气压条件下对环境的抵抗能力，通过加速其失效过程，加速因子在几十到几百倍之间，此类极端的加速模拟可靠性测试，便于确定产品或器件的极限工作条件，更容易提前发现产品失效模式，并且缩短产品或系统的寿命试验时间，为量产验证赢得时间。


产品别名：
      双层式HAST高压加速寿命老化箱，两槽式HAST加速寿命试验装置，双腔体HAST老化箱，两层式HAST高压加速老化箱

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威邦双层式-HAST高压加速寿命老化箱：英文名2-Zone HAST CHAMBER，用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验。

» 采用上下双层式设计，节省实验室占地空间，1台机的价格=2台机的价值，降低设备使用成本。

» 单屏双控，减少复杂繁琐设定，满足不同试样同时测试，提高试验效率。

» 根据不同试验需求可选配偏压端子，端子数量从4~128路覆盖大部分试样偏压测试。本机96路偏压端子设计，满足芯片偏压测试。

» 产品兼容HAST不饱和高压蒸汽的恒定湿热测试和PCT饱和高压蒸汽测试。

» 自动箱门设计，按钮控制箱门开合，自带压力保护。

产品特点

满足标准：

AEC Q100-Rev-E （AEC Q101）汽车级半导体分立器件应力测试认证

JIS C0096-2001环境测试第2部分：倾倒·湿热·稳态（非饱和加压蒸汽）

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101C稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110E HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118B温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

技术规格

*可定制任意规格参数非标机型

HAST高压加速老化试验箱（双层）
型号Model		WBE-2HAST-30	WBE-2HAST-40	WBE-2HAST-55	WBE-2HAST-65
工作容积（L）		20 L	60 L	140 L	225 L
内箱尺寸单个腔体（mm）	直径φ	300	400	550	650
	深D	450	550	650	750
外箱尺寸（mm）	宽W	650	700	800	1000
	深D	900	1050	1200	1300
	高H	1650	1710	1850	1860
功率（KW）		2	2.7	4.8	6.5
性能指标	温度范围	A： +100~+143℃； B： +100~+156℃；（可定制其它温度）
	湿度范围	60%~100%R.h
	压力范围	A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)； B：0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa)；（可定制更大压力范围）
	温度均匀度	≤±1℃
	温度波动度	≤±0.5℃
	湿度波动度	≤±2 % R.h
	湿度偏差	≤±3 % R.h
	温度偏差	≤±2℃
	压力偏差	≤±2Kpa
	升温时间	常温～+ 143℃ 约45min ；常温～+ 156℃ 约55min
	升压时间	常压～3kg/cm² 约35 min，外部气源加压约5min
箱体材质	内箱	SUS #316不锈钢
	外箱	冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理，WBE威邦标准蓝灰
噪音（dB）		≤65
控制器		7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据）
加压方式		1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压
BIAS偏压端子		含偏压端子（选配订购时需注明）
电源		AC380V 50/60Hz
重量（KG）具体以实际为准		350	425	580	650
保护装置		1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护，7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护
型号说明