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HAST高压加速寿命老化箱
  • WBE-HAST-35高压加速老化箱
  • HAST800
  • 控制器3

HAST高压加速寿命老化箱

产品规格 : 满足20~225L标准容积选型和非标定制
产品介绍:
      HAST高压加速寿命老化箱 HAST Chamber又名HAST高压加速寿命老化试验箱,用于车规级芯片,IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的密封性和老化性能。

产品别名:
       UHAST, 高加速稳态湿热应力试验箱, 高压蒸汽试验箱, 不饱和高压蒸汽的恒定湿热箱,BHAST
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产品详情

威邦HAST高压加速寿命老化箱:用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热等加速寿命信赖性试验。

 

» 内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击,影响试验结果。

» 产品满足JESD22-A100至A118偏压(BHAST)或不偏压(UHAST)加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽(蒸煮)试验。

» 产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。

» 快速排气模式,试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性。

» 根据不同试验需求可选配偏压端子,端子数量从4~128路覆盖大部分试样偏压测试。

 

应用领域

 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片……

产品特点

HAST常用试验标准

hast测试标准表格655-437

技术规格

*可定制任意规格参数非标机型

HAST高压加速寿命老化箱
型号Model WBE-HAST-30 WBE-HAST-40 WBE-HAST-55 WBE-HAST-65
工作容积(L) 20 L 60 L 140 L 225 L
内箱尺寸
(mm)
直径φ 300 400 550 650
深D 450 550 650 750
外箱尺寸
(mm)
宽W 650 700 900 1000
深D 1000 950 1200 1300
高H 1650 1710 1760 1860
功率(KW) 2.8 3.2 4.5 6
性能指标 温度范围 A: +100~+143℃;
B: +100~+156℃;
(可定制其它温度范围)
湿度范围 60%~100%R.h
压力范围 A:0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa);
B:0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa);
(可定制更大压力范围)
温度均匀度 ≤±1℃
温度波动度 ≤±0.5℃
湿度波动度 ≤±2 % R.h
湿度偏差 ≤±3 % R.h
温度偏差 ≤±2℃
压力偏差 ≤±2Kpa
升温时间 常温~+ 143℃ 约45min ;常温~+ 156℃ 约55min 
升压时间 常压~3kg/cm² 约35min,外部气源加压 约5min
箱体材质 内箱 SUS #316不锈钢
外箱 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理,WBE威邦标准蓝灰
噪音(dB) ≤60
控制器 7寸彩色触摸屏控制器(带压力温湿度,带RS-485或RS-232通讯,USB烤数据)
分辨率 温度:0.01℃;湿度:0.1%RH;压力:0.1 kg/cm²;
加压方式 1.锅炉蒸汽加压;2.外部气体加压
BIAS偏压端子 含偏压端子(选配订购时需注明)
使用条件 环境温度:+5℃~+35℃;环境湿度:≤85%RH;环境大气压要求:86KPa~106KPa
电源 AC220V 50/60Hz
保护装置 1.超温保护,2.风机超载保护,3.箱门压力保护,4.缺水保护,5.溢水保护,6.加热器空焚保护,7.加热器超载保护,8.电源缺相保护,9.过电流保护,10.短路漏电等保护
重量(KG)具体以实际为准 220 255 390 550
型号说明

HAST型号说明

行业应用

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