HAST高压加速老化试验箱

产品规格 : WBE-HAST-35 温度范围：+100℃~+155℃，压力范围：0.05~0.294Mpa

HAST高压加速老化试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

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HAST高压加速老化试验箱产品简介：

HAST/HALT试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

威邦高压加速老化试验箱采用最新优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。

技术规格

试验标准：

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

型号	WBE-HAST-35	WBE-HAST-40	WBE-HAST-55
工作室尺寸(ΦxD) 直径x深	350x450mm	400x500mm	550x650mm
外箱尺寸(WxDxH) 宽深高	750x900x1700mm	750x900x1700mm	850x1050x1800mm
功率	4KW	5.5KW	6.5KW
电源	220V/50HZ~60HZ
温度范围	A.+100℃～+133℃; B.+100℃～+142℃; C.+100℃～+155℃;
温度波动度	≤±0.5℃.
温度均匀度	≤±0.5℃.
湿度范围	65%～100 %R.H .
湿度波动度	≤±2 %R.H.
湿度均匀度	≤±3 % R.H.
压力范围	0.2～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa) （箱内压力）； 0.2～3㎏/㎝2 (0.05～0.294 MPa) （箱内压力）；
升温时间	常温～+ 133℃ 约40 min .
升压时间	常压～+ 2㎏/㎝2 约20 min. 外部气源加压：约5 min
偏压端子	含偏压端子（选配订购时需注明）
压力偏差	≤±2Kpa
保温围护结构	外壁材料：高级钢板喷塑。内壁材料：不锈钢板SUS316 。箱体保温材料：超细玻璃棉。
燥音	≤60分贝（dB）(噪音检测装置距离设备大门1m处测量)
控制器	7寸彩色触摸屏智能模糊控制器，搭载压力温湿度版操作系统
使用条件	1.+5℃~+35℃;2.相对湿度：不大于85%R.H 3.大气压力：80kpa~106 kpa 4 .平坦无振动的地面
保护装置	1.加热器空焚防止保护开关2.加热器过电流断路器3.循环风扇过电流超载保护 4.带压力门打不开保护5.泄压完成提升6.过电压欠逆相保护开关7.线路断路器8.漏电开关9.过零点闸流体功率控制器10.缺水保护;