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HAST高压加速寿命老化箱
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HAST高压加速寿命老化箱

产品规格 : 内箱满足35~55L标准容积和其它型号非标定制
产品介绍:
       HAST Chamber又名HAST高压加速寿命老化试验箱,用于车规级芯片,IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的密封性和老化性能。

产品别名:
       UHAST, 高加速稳态湿热应力试验箱, 高压蒸汽试验箱, 不饱和高压蒸汽的恒定湿热箱,BHAST
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产品详情

一,满足试验标准

AEC Q101(车规级芯片)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

二,应用领域

 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片……

 

产品特点

威邦仪器-HAST高压加速寿命老化箱

1.内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击,影响试验结果。

2.产品满足JESD22-A100至A118偏压(BHAST)或不偏压(UHAST)加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽(蒸煮)试验。

3.产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。

技术规格

 

HAST高压加速寿命老化箱
型号 WBE-HAST-35 WBE-HAST-40 WBE-HAST-55
容积(L) 35 L 40 L 55 L
内箱尺寸
(mm)
直径φ 350 400 550
D 450 550 650
性能指标 温度范围  +100~+156℃
湿度范围 65%~100%RH
压力范围 0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa)
温度均匀度 ≤±2℃
温度波动度 ≤±0.5℃
湿度波动度 ≤±2 % R.H
湿度偏差 ≤±3 % R.H
温度偏差 ≤±2℃
压力偏差 ≤±2Kpa
升温时间 常温~+ 155℃   约45 min
升压时间 常压~3㎏/㎝²   约35 min,外部气源加压:约5 min
功率 2.8KW 3.2KW 4KW
箱体材质 内箱 SUS #316不锈钢
外箱 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
保温 超细玻璃棉
噪音 ≤60(dB)
控制器 7寸彩色触摸屏控制器(带压力温湿度,带RS-485或RS-232通讯,USB烤数据)
分辨率 温度:0.01℃;湿度:0.1%RH;压力:0.1 kg/cm²;
加压方式 1.锅炉蒸汽加压;2.外部气体加压
BIAS偏压端子 含偏压端子(选配订购时需注明)
使用条件 环境温度:+5℃~+35℃;环境湿度:≤85%RH;环境大气压要求:86KPa~106KPa
电源 AC220V 50/60Hz
重量 252KG 285KG 358KG
型号说明  

HAST型号说明

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