产品介绍：
HAST高压加速寿命老化箱 HAST Chamber又名HAST高压加速寿命老化试验箱，用于车规级芯片，IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的密封性和老化性能。
产品别名：
UHAST, 高加速稳态湿热应力试验箱, 高压蒸汽试验箱, 不饱和高压蒸汽的恒定湿热箱,BHAST
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威邦HAST高压加速寿命老化箱：用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热等加速寿命信赖性试验。
» 内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击，影响试验结果。
» 产品满足JESD22-A100至A118偏压（BHAST）或不偏压（UHAST）加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽（蒸煮）试验。
» 产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。
» 快速排气模式，试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性。
» 根据不同试验需求可选配偏压端子，端子数量从4~128路覆盖大部分试样偏压测试。
应用领域：
PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片……
HAST常用试验标准
*可定制任意规格参数非标机型
| HAST高压加速寿命老化箱 | |||||
| 型号Model | WBE-HAST-30 | WBE-HAST-40 | WBE-HAST-55 | WBE-HAST-65 | |
| 工作容积（L） | 20 L | 60 L | 140 L | 225 L | |
| 内箱尺寸 （mm） |
直径φ | 300 | 400 | 550 | 650 |
| 深D | 450 | 550 | 650 | 750 | |
| 外箱尺寸 （mm） |
宽W | 650 | 700 | 900 | 1000 |
| 深D | 1000 | 950 | 1200 | 1300 | |
| 高H | 1650 | 1710 | 1760 | 1860 | |
| 功率（KW） | 2.8 | 3.2 | 4.5 | 6 | |
| 性能指标 | 温度范围 | A： +100~+143℃； B： +100~+156℃； （可定制其它温度范围） |
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| 湿度范围 | 60%~100%R.h | ||||
| 压力范围 | A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)； B：0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa)； （可定制更大压力范围） |
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| 温度均匀度 | ≤±1℃ | ||||
| 温度波动度 | ≤±0.5℃ | ||||
| 湿度波动度 | ≤±2 % R.h | ||||
| 湿度偏差 | ≤±3 % R.h | ||||
| 温度偏差 | ≤±2℃ | ||||
| 压力偏差 | ≤±2Kpa | ||||
| 升温时间 | 常温～+ 143℃ 约45min ；常温～+ 156℃ 约55min | ||||
| 升压时间 | 常压～3kg/cm² 约35min，外部气源加压 约5min | ||||
| 箱体材质 | 内箱 | SUS #316不锈钢 | |||
| 外箱 | 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理，WBE威邦标准蓝灰 | ||||
| 噪音（dB） | ≤60 | ||||
| 控制器 | 7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据） | ||||
| 分辨率 | 温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²； | ||||
| 加压方式 | 1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压 | ||||
| BIAS偏压端子 | 含偏压端子（选配订购时需注明） | ||||
| 使用条件 | 环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa | ||||
| 电源 | AC220V 50/60Hz | ||||
| 保护装置 | 1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护，7.加热器超载保护，8.电源缺相保护，9.过电流保护，10.短路漏电等保护 | ||||
| 重量（KG）具体以实际为准 | 220 | 255 | 390 | 550 | |
| 型号说明 |
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产品详情
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技术规格
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