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HAST高压加速寿命老化箱
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HAST高压加速寿命老化箱

产品规格 : 内箱满足35~55L标准容积和其它型号非标定制
产品介绍:
       HAST Chamber又名HAST高压加速寿命老化试验箱,用于车规级芯片,IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节,测试其制品的密封性和老化性能。

产品别名:
       UHAST, 高加速稳态湿热应力试验箱, 高压蒸汽试验箱, 不饱和高压蒸汽的恒定湿热箱,BHAST
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全国服务咨询热线:400-8353-568

产品详情

一,满足试验标准

AEC Q101(车规级芯片)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

二,应用领域

 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片……

 

产品特点

威邦仪器-HAST高压加速寿命老化箱

1.内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

2.产品满足JESD22-A100至A118偏压(BHAST)或不偏压(UHAST)加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽(蒸煮)试验。

3.产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。

技术规格

一,主要技术参数

型号

WBE-HAST-35

WBE-HAST-40

WBE-HAST-55(可定制)

内容积(L)

35L

40L

55L

内箱尺寸(ΦxD)

直径x深(mm)

350x450mm

400x550mm

550x650mm(可定制大于这个尺寸)

外箱尺寸(WxDxH)

宽深高(mm)

700x1000x1710mm

700x1000x1710mm

850x1150x1760mm

功率

2.8KW

3.2KW

4KW

重量

252KG

285KG

358KG

电源

AC220V 50/60Hz

温度范围

+100℃~+156℃;

温度波动度

≤±0.5℃.

温度均匀度

≤±0.5℃.

湿度范围

65%~100 %R.H .

湿度波动度

≤±2 %R.H.

湿度均匀度

≤±3 % R.H.

压力范围

0.2~3㎏/㎝² (0.018~0.294 MPa) (箱内压力);(可定制大于此压力机型)

升温时间

常温~+ 155℃   约45 min .

升压时间

常压~+ 3㎏/㎝²   约35 min.   外部气源加压:约5 min

偏压端子

含偏压端子(选配订购时需注明)

压力偏差

≤±2Kpa

循环方式

磁流体密封件+风叶强制对流循环方式。

加压方式

1.锅炉蒸汽加压;2外部气体加压

分辨率

温度±0.1℃,湿度±0.1%R.H. 压力0.01㎏/cm2,0.01min

保温围护结构

内胆:优质SUS316锈钢;外壳;轧钢板+双面静电喷塑工艺处理;内胆保温材料:超细玻璃棉。

燥音

≤60(dB)

控制器

7寸彩色触摸屏控制器(带压力温湿度曲线,带RS-485或RS-232通讯,USB烤数据)

使用条件

环境温度:+5℃~+35℃;环境湿度:≤85%RH;环境大气压要求:86KPa~106KPa

型号说明

HAST型号说明

行业应用

合作客户

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实力与优势

荣誉资质

出货与售后

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