一,满足试验标准:
AEC Q101(车规级芯片)
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热
IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热
JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命
JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)
JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)
JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命
JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验
JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)
二,应用领域:
PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件、车规级芯片……
威邦仪器-HAST高压加速寿命老化箱:
1.内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击,影响试验结果。
2.产品满足JESD22-A100至A118偏压(BHAST)或不偏压(UHAST)加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽(蒸煮)试验。
3.产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。
HAST高压加速寿命老化箱 | ||||
型号 | WBE-HAST-35 | WBE-HAST-40 | WBE-HAST-55 | |
容积(L) | 35 L | 40 L | 55 L | |
内箱尺寸 (mm) |
直径φ | 350 | 400 | 550 |
深D | 450 | 550 | 650 | |
性能指标 | 温度范围 | +100~+156℃ | ||
湿度范围 | 65%~100%RH | |||
压力范围 | 0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa) | |||
温度均匀度 | ≤±2℃ | |||
温度波动度 | ≤±0.5℃ | |||
湿度波动度 | ≤±2 % R.H | |||
湿度偏差 | ≤±3 % R.H | |||
温度偏差 | ≤±2℃ | |||
压力偏差 | ≤±2Kpa | |||
升温时间 | 常温~+ 155℃ 约45 min | |||
升压时间 | 常压~3㎏/㎝² 约35 min,外部气源加压:约5 min | |||
功率 | 2.8KW | 3.2KW | 4KW | |
箱体材质 | 内箱 | SUS #316不锈钢 | ||
外箱 | 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理 | |||
保温 | 超细玻璃棉 | |||
噪音 | ≤60(dB) | |||
控制器 | 7寸彩色触摸屏控制器(带压力温湿度,带RS-485或RS-232通讯,USB烤数据) | |||
分辨率 | 温度:0.01℃;湿度:0.1%RH;压力:0.1 kg/cm²; | |||
加压方式 | 1.锅炉蒸汽加压;2.外部气体加压 | |||
BIAS偏压端子 | 含偏压端子(选配订购时需注明) | |||
使用条件 | 环境温度:+5℃~+35℃;环境湿度:≤85%RH;环境大气压要求:86KPa~106KPa | |||
电源 | AC220V 50/60Hz | |||
重量 | 252KG | 285KG | 358KG | |
型号说明 |