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芯片剪切力测试机
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WBE-9088B 芯片剪切力测试机

产品介绍:
      WBE-9088B芯片剪切力测试机(Bond Test)是一款高精度,多功能的推拉力测试机,广泛应用于芯片测试环节以及总体集成封装工艺的生产过程测试和产品失效测试。

产品别名:芯片推力测试机,焊线强度测试机,半导体推拉力测试机,晶圆推拉力测试机,晶片剪切力测试机……
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产品详情

 

威邦WBE-9088B芯片剪切力测试机(Bond Test):是一款多功能高精度全自动推拉力测试机,广泛应用于芯片半导体、LED、太阳能、晶片封裝的品質測試和工艺分析,支持破坏性非破坏性2种测试切换。

 

1. 能够执行所有拉力和剪切力应用,规格丰富的钩针、负载刀具、钳爪可以测试各种尺寸和类型的样品,

2.专用软件功能强大,操作简单,自带CPK、MES、曲线、Excel表格数据导出,

3.测试方式均采用VPM垂直牵引和垂直定位技术,每个传感器采用独立防碰撞超载保护系统,防止因操作失误造成精度偏移。

4.多合一测试模组,自动旋转更换模组,适用于各种拉、剥、推或剪切应用。

 

满足标准:

球焊剪切力(BALL BOND SHEAR):ASTM F1269、芯片剪切力(DIE SHEAR):MIL STD 883、金球剪切力(AU BALL SHEAR):JEDEC JESD22-B116、拉线(WIRE PULL):DT/NDT MIL STD 883、平拔拉力(STUD PULL):MIL STD 883、倒装芯片拉力(FLIP CHIP PULL):JEDEC JESD22-B109、冷拔球(CBP/HBP):JEITA EIAJ ET-7407、冷拔球:JEDEC JESD22-B115、BGA铜柱剪切力(BGA BUMP SHEAR):JEDEC JESD22-B117A

 

 

 

技术规格
剪切力测试机
型号 WBE-9088B
模组切换 自动切换模组(可以自动旋转3~6种模组)
拉力模组、推力模组、压力模组、拨球模组可选并可每种模组选择多个
外型尺寸
(W宽*D深*H高)
430*665*790mm
拉力模组量程 100g,200g,1kg,5kg,10kg,20kg,50KG(其他量程商定)
推力模组量程 250g,1kg,5Kg,20kg,50kg,100kg,200kg,300kg,500kg(其他量程商定)
压力模组量程 250g,1kg,5Kg,20kg,50kg,100kg,200kg,300kg,500kg(其他量程商定)
拨球模组量程 250g,1kg,5Kg,20kg,50kg,100kg(其他量程商定)
测试精度 0.1%
X轴行程 有效行程100mm,最大速度5mm/s
Y轴行程 有效行程100mm,最大速度5mm/s
Z轴行程 有效行程100mm,最大速度7mm/s
定位精度 ±5um以内
分辨率 0.1μm
Z轴测试最小定位高度 ≤0.5μm
显微镜 1~60倍
压缩空气 4.5~6Bar
真空供应 550mm Hg
平台夹具 平台可共享各种夹具,夹具可360度旋转
电脑系统 机器自带电脑windows操作系统,软件操作简单,可显示测试数据及力值分布曲线
软件可开放选择 推力测试、拉力测试,压力测试,冷热拨球测,疲劳测试,尺寸量测,剥离撕裂测试
重量 95KG
功率 1KW/4.5A
电源 220V±5%, 50-60HZ

行业应用

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