WBE-9089D 推拉力测试仪

WBE威邦WBE-9089D推拉力测试仪是一种多功能推拉力测试仪：该设备无论测试精度、重复可靠性、操控性和外观设计，均达到世界一流的水平。

应用领域：

广泛应用于半导体封装、LED封装、IC器件封装、TO封装、IGBT功率模块封装、智能卡封装、通讯电子、汽车电子产业、军用产品及各类研究院所、大专院校、电子电路失效分析与测试，应用还包括：wire pull, ball shear, tweezer pul,cold bump pull 和更专业的stud pull 等等。推拉力测试系统适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力；及COB封装、光电,LED,SMT组装 , 原件与基板黏合测试。

产品功能：

1.满足所有拉力和剪切力测试应用。

2.满足内引线拉力测试、微焊点推力测试、金球推力测试、芯片剪切力测试、SMT焊接元器件推力测试、BGA矩阵整体推力测试。

3.可进行锡球剪切力，晶粒剪切力，凸块拉力，矢量拉力，镊钳拉力等测试。

4.任意组合可实现多种功能推拉力测试。

5.满足单一（独立）测试模组或自由添加任意测试模组。

测试项目示意图：

我们为您提供24小时方案服务及客户样品定制方案。

1.采用进口精密传感器技术和配件，保证产品精度与稳定；

2.测试方式均采用VPM的垂直牵引及垂直定位技术；

3.四轴运动平台，采用进口传动部件，确保机台高速稳定运行；

4.荷重精度带7档自动换挡功能保证全量程高精度;

5.测试数据在电脑上以波形图、直方图、数据报表等；

6.可以自动旋转转换拉力测试、小量程推力测试、大量程推力测试三种模组；

7.采用32Bits高精度高分辨率的AD转换器；

8.每个传感器采用独立防碰撞超载保护系统，防止因操作失误造成精度偏移；

9.采用力学设备最前沿控制技术三闭环：荷重闭环、位移闭环、速度闭环；

10.设备带自动校正功能，可以选配专用的校正治具及砝码；

一，主要技术参数：

1.拉力测试常用量程选择：100g,1kg，5kg,20kg,50kg,100kg,100kg 测试精度0.1%；（其他量程商定）

2.推力测试常用量程选择：250g,5Kg,100kg，200kg，500kg测试精度0.1%；（其他量程商定）

3.软件可开放选择：压力测试、推力疲劳性测试、芯片高度测量、线弧高度测量；

4.X轴：有效行程100mm，最大速度5毫米/秒，分辩率0.1μm；

5.Y轴：有效行程100mm，最大速度5毫米/秒，分辩率0.1μm；

6.Z轴：有效行程100mm，最大速度7毫米/秒，分辩率0.1μm；

7.Z轴测试最小定位高度：≤0.5μm；

8.平台夹具：平台可共享各种夹具，夹具可360度旋转；

9.四轴运动平台，采用进口传动部件，确保机台高速、长久稳定运行；

10.机器自带电脑windows操作系统，软件操作简单，可显示测试数据及力值分布曲线；

11.显微镜:1~60倍；

12.压缩空气：4.5~6Bar；

13.真空供应：550mm Hg；

14.外形尺寸：宽W430mm*深D665mm*高H790mm；

15.重量：95KG；

16.电源：220V±5%, 50-60HZ； 

17.功率：1KW/4.5A；

二，操作软件界面：

三，测试夹具：

四，主要配置清单：（除标注外的全部标配）