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快速冷热交替气流仪
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WBE-KSWDCJ01 快速冷热交替气流仪

热流仪\快速冷热冲击测试机\高低温热流仪\高低温气流仪\快速冷热交替气流仪\电子芯片热流仪
      热流仪、快速高低温冲击测试仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯(如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
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产品详情

热流仪/快速高低温冲击测试机与传统高低温测试箱、温湿度测试箱对比主要优势:
1、可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个 IC (模块),单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
2、inTEST 对测试机平台 load board 上的 IC 进行温度循环 / 冲击;传统高低温试验箱无法针对此类测试

产品特点

【工作原理】

  1、试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;

  2、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。


【工作模式】

  A)2路主空气管输出,由分布头分为8路供气,带2套1拖8 系统

  B) 2种检测模式 Air Mode 和 DUTMode测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)

技术规格

       1. 设备型号:WBE-KSWDCJ01

  2. 样品盒尺寸:直径140mm×高50mm

  3. 制冷方式:采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统,温度可达-70℃

  4. 噪音:≤65dB(A声级)

  5. 条件:风冷式环境温度在+23℃时

  6. 温度控制范围:-70℃~+250℃

  7. 冲击温度范围:-60℃~+200℃

  8. 温度转换时间:≤10秒

  9. 温度偏差:测试品恒定在-40℃时,温度偏差为±1℃

  10.冲击气流量:1.9~8.5L/s(分为8路,每路0.23~1.06 L/s)连续气流

  11.温变速率降:RT+10℃降至-40℃≤60s

  12.试品表面温度:RT+10℃降至-40℃约1分钟试品表面温度达到,气体温度与样品温度可选择测控

  13.控制系统:采用进口智能PLC触摸屏控制,7寸彩色屏

  14.试品:带2套1拖8 系统,金属封装PCB板模块8片;

  15.前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。

  16.外形尺寸:宽650×高1400×深900(mm)以实物为准

  17.使用电源:220V 3KW

行业应用

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